NI 降低無線生產測試成本

作者 | 發布日期 2015 年 05 月 12 日 10:55 | 分類 市場動態 , 物聯網 , 軟體、系統 follow us in feedly
NI 官網

身為平台架構系統供應商,NI 一向以協助工程師和科學家克服最艱鉅的工程挑戰為己任,並於 4 月 30 日推出無線測試系統 (Wireless Test System,簡稱 WTS),這項解決方案可大幅降低大量無線生產的測試成本。雖然無線測試的複雜度與日俱增,只要運用專門針對量測速度與平行測試而優化的系統,公司企業仍然可以確實降低測試成本、加倍生產效率。



「所謂的大趨勢 (Megatrend) 包含了物聯網 (IoT) 在內,會促使更多裝置納入 RF 與感測器功能,一般而言,這類功能的測試成本所費不貲。但是測試成本不應該阻礙創新並限制產品的經濟生存力」,Frost & Sullivan 的量測與儀控計畫經理 Olga Shapiro 指出:「為了確保未來的利潤,公司企業必須重新思考原有的無線測試方式,並且接納新的標準。WTS 採用經過業界認證的 PXI 平台,同時具有 NI 的市場專業技術,我們認為這項產品對於 IoT 的收益性有著相當大的影響。」

WTS 結合了 PXI 硬體的最新功能與技術,可透過單一平台滿足多種標準、多種 DUT 與多種連接埠的測試需求。如果再搭配靈活的測試序列軟體一起使用,例如 TestStand Wireless Test Module,製造商還能夠在平行測試多個裝置時,大幅提升儀器的使用率。WTS 具有立即可用的測試序列,適合搭載 Qualcomm 與 Broadcom 晶片組的裝置,此外還配備整合式 DUT 與遠端自動化控制功能,可輕鬆整合至生產線。這樣一來,客戶即可大幅提升 RF 測試設備的效率,進一步降低測試成本。

「WTS 幫助我們降低了 25% 以上的測試成本」,peiker acustic GmbH & Co. KG 的測試設備與器具營造主任表示:「我們能夠運用同個設備所提供的多種無線技術,同時平行測試四個裝置,而且每個裝置都有三個天線埠。」

WTS 是 NI 最新的系統,其中搭載了 PXI 硬體、LabVIEW 與 TestStand 軟體 (請參考 2014 年推出的  STS 半導體測試系統)。WTS 可支援 LTE Advanced、802.11ac 和 Bluetooth Low Energy 等無線標準,並且經過特殊設計,適用於 WLAN 存取點、行動裝置、資訊娛樂系統,以及其他納入行動、無線連接與導航標準的多標準裝置製造測試作業。WTS 搭載軟體設計的 PXI 向量訊號收發器 (VST) 技術,可針對製造測試環境提供優異的 RF 效能,而且這個平台還能夠隨著千變萬化的 RF 測試需求而擴充。

(首圖來源:NI 官網) 

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