NI 推出強化版半導體測試管理軟體

作者 | 發布日期 2016 年 03 月 31 日 12:15 | 分類 市場動態 , 軟體、系統 follow us in feedly
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NI 國家儀器 (National Instruments,簡稱 NI) 做為致力於為工程師與科學家提供解決方案以應對全球最嚴峻工程挑戰的供應商,於 31 日宣布推出 TestStand 半導體模組 (TestStand Semiconductor Module),為測試系統工程師提供所需的軟體工具來快速開發、布署並維護最佳化的半導體測試系統。



藉助 TestStand 半導體模組,工程師能運用與半導體測試系統 (STS) 布署在廠房內一樣的程式設計方式,在實驗室進行特性測試,進而降低建立量測結果關聯所需的時間。TestStand 半導體測試模組( TestStand Semiconductor Module) 採用全球超過一萬名開發人員使用的 TestStand 工業標準測試管理軟體,幫助用戶使用 PXI 和 TestStand 功能自行搭建半導體測試所需的基架構式系統,而不需要採用STS 傳統的「測試頭」架構。

「NI 透過開放式軟體與模組化硬體,持續降低半導體測試的成本。」NI 半導體測試副理 Ron Wolfe 表示:「我們於 2014 年推出了 STS,為開放式的工業標準 PXI 平台新增了半導體專屬功能。TestStand 模組是針對半導體特性測試、生產測試的各種需求所設計,現在我們就是運用此模組來提升測試開發的生產力。」

TestStand 半導體模組提供獨特的半導體測試功能,有助於降低開發成本、提高產能。其功能包含:

  • 動態多點程式設計,能夠針對不同數量的測試站點,重複使用程式碼
  • 直覺式的 Pin Map Editor,包含 PXI 與第三方儀控
  • 標準測試資料格式 (STDF) 結果處理器,能夠針對參數測試結果執行工業標準記錄

TestStand 半導體模組強化了 NI 在半導體測試上持續成長的服務,其中包含 STS、上百種高效能 PXI 儀器,以及強大的軟體,例如 TestStand 與 LabVIEW 系統設計軟體。 透過更智慧型的 NI 平台方案,半導體廠商便能針對 RF 與混合式訊號測試降低成本、提高產能。 

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