NI 發表業界最高精度的 PXI 電源量測單元

作者 | 發布日期 2016 年 08 月 22 日 14:30 | 分類 市場動態 , 零組件 follow us in feedly
FLICKR National Instruments

NI 國家儀器身為平台式系統供應商,可協助工程師與科學家解決全球最艱鉅的工程挑戰,並於近日推出 NI PXIe-4135 電源量測單元(SMU)提供 10 fA 的量測靈敏度與高達 200V 的電壓輸出。透過 NI PXI SMU 的靈活彈性、高通道數密度、絕佳的測試輸出率,工程師可使用 NI PXIe-4135 SMU 量測低電流訊號,並執行晶圓參數測試、材料研究、低電流感測器與 IC 的特性測試等多種應用。



「我們的行內參數測試必須擷取數百萬個資料點,過程中常會產生數微微安培的洩漏電流,」IMEC 研究員 Bart De Wachter 博士表示。「新款 NI PXI SMU 可準確量測這些低電流訊號,並同時享有 PXI 平台的快速除錯與 LabVIEW 提供的系統設計彈性。」

工程師可透過模組化 NI PXI SMU 打造體積精巧、平行的多通道數系統,並享有多達 68 SMU 通道的單一 PXI 機箱,能夠針對數百個通道執行晶圓穩定性測試與平行測試此外,使用者可善用高速通訊匯流排、精確的硬體序列與數位控制迴路技術,藉此提高測試輸出率並客制微調任何待測裝置的 SMU 應。 使用者也可以運用軟體控制 SMU 應,不僅可縮短 SMU 趨穩作業漫長的等待時間,還能藉由軟體的彈性減少過衝與震盪,即使是高電容負載也一樣。

「半導體裝置越來越複雜,我們必須重新思考傳統的研究方法、特性測試與穩定度量測,這也正是我們投資 SMU PXI 的主要原因。」NI 自動化測試總監 Luke Schreier 如此表示。 NI SMU 不僅可降低測試時間、增加通道密度,現在還能提供 10 fA 靈敏度、更優良的量測品質。」

NI PXI SMU 使用互動式軟體人機介面執行基本量測並為自動化應用除錯,其操作的簡易程度是箱型 SMU 無法達成的。此驅動程式提供輔助檔案、文件與立即可用的範例程式,藉以協助測試程式碼的開發,另外還提供程式設計介面,可搭配 CMicrosoft .NET LabVIEW 系統設計軟體等多種開發環境。 工程師也可使用 NI PXI SMU 搭配 NI TestStand 測試管理軟體,藉此簡化測試系統在實驗室與生產線上的建置與部署。

(首圖來源:Flickr/National Instruments CC BY 2.0) 

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