iPhone X 臉部辨識出包連連,疑為提升錯誤接受率導致

作者 | 發布日期 2017 年 11 月 16 日 9:17 | 分類 Apple , iPhone , 零組件 follow us in feedly

iPhone X 正式上市前,市場上仍不斷傳出供貨不足、延後上市等傳言,但最終仍在發表後短短不到 2 個月的時間就開賣。蘋果的硬體工程資深副總裁 Dan Riccio 向媒體表示,原本計劃中的 iPhone X 其實要等到 2018 年才能上市。而能夠順利上市的關鍵,就在於 TrueDepth 相機搭載的重要零件上!




《科技新報》獲得內部消息指出,其泛光照明器(Flood illuminator)所使用的 VCSEL(Vertical Cavity Surface Emitting Laser,垂直共振腔面射型雷射)原設計投射超過 30,000 個不可見光測繪點來進行臉部分析,但因良率問題導致出貨時間緊迫,蘋果不得不降低功率改以發射約二分之一至三分之一的功率、相當於 6,000-10,000 個測繪點,降低執行標準以達成足夠的出貨量。消息指出甚至連鴻海都曾向蘋果提出類似的建議以求出貨量達標。

首先,對於辨識系統而言存在著兩種的可能錯誤:一種是錯誤排斥率(False Rejection Rate,FRR),即為應該通過辨識卻沒通過;另一種則是錯誤接受率(False Acceptance Rate,FAR),應該不能通過辨識卻通過了。

於是當 VCSEL 降低測繪點數量、放寬辨識率,也使得把辨識錯誤視為正確的 FAR 提高了,一般使用者不容易察覺這個差異,而關於降低精確度以加大出貨量的說法,蘋果先前對各方媒體的這項說法是予以否認,但在 iPhone X 出貨後,陸續發生雙胞胎、甚至是長相相似的母子能夠透過 Face ID 辨識成功並解鎖的情形下,或許把 FAR 提高的說法並非空穴來風。

(首圖來源:蘋果秋季發表會截圖

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