NI 將半導體測試系統的 PXI SMU 通道密度提升 6 倍

作者 | 發布日期 2018 年 02 月 01 日 14:50 | 分類 市場動態 , 晶片 , 零組件 follow us in feedly

NI 國家儀器為平台架構系統供應商,致力於協助工程師與科學家解決全球最艱鉅的工程挑戰。1 月 16 日,NI 發表了 PXIe-4163 高密度電源量測單元(SMU),其 DC 通道密度為上一代 NI PXI SMU 的 6 倍,適合用來測試 RF、MEMS 與混合訊號,以及其他類比半導體元件。



NI 全球銷售與行銷執行副總 Eric Starkloff 表示:「5G、物聯網與自動化汽車等高顛覆性技術的出現,迫使半導體產業必須持續推動技術發展,並採用更具效率的方式來進行半導體測試。半導體測試在 NI 的策略布局中佔有重要地位;正因如此,我們正積極擴充旗下軟體平台與 PXI 的功能,並促成最新款 PXI SMU 的問世;PXI SMU 可協助晶片製造廠解決眼前的重大挑戰。」

許多晶片製造廠均已迅速採用半導體測試系統(STS),以達到提高產量、提升成本效益與縮減生產線規模等目的。新款 PXIe-4163 SMU 可進一步發揮上述功效。PXIe-4163 SMU 具備更高的 DC 通道密度,能在多站點應用上實現更高等級的平行機制,同時透過可立即用於生產的規格,達到實驗室等級的量測品質。工程師可結合運用上述優勢,將相同的儀控設備運用在檢驗實驗室與生產線上,如此即可減少與量測相關的種種難題,並縮短上市時間。

工程師可將新款 PXIe-4163 SMU,運用於 STS 設定或獨立式 PXI 系統中。產品的主要功能如下:

  • 最多可提供 24 個通道的單一 PXI Express 插槽
  • 每個通道 +/- 24 V
  • 每個通道提供高達 100 mA 的源極/汲極
  • 100 pA 的電流敏感度
  • 高達 100 kS/s 的取樣率與更新率
  • 具備 SourceAdapt,可將過衝與震盪降至最低
  • 提供互動式的設定與除錯軟體
  • 可容納高達 408 個高精確度 SMU 通道的單一 PXI 機箱(4U 的機架空間)
  • 可完整支援 STS,包括系統層級的接線、校準與接腳映射支援

STS 於 2014 年首度發表,為半導體生產測試提供了截然不同的方式。STS 是以 NI PXI 平台為基礎所建置而成,可協助工程師建置更具智慧效能的測試系統。這款 PXI 平台涵蓋 1 GHz 頻寬的向量訊號收發器、fA 系列 SMU、領先業界的商用現貨測試管理軟體 TestStand,以及超過 600 款 PXI 產品(從 DC 到 mmWave 皆包含在內)。

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