韓國檀國大學(Dankook University)22 日宣布,開發出全球第一台設備,可快速測量手機等各種顯示器表面的奈米薄膜表面缺陷。 繼續閱讀..
韓國開發全球首台高速測量設備,檢測顯示器的奈米薄膜表面缺陷 |
作者 林 妤柔|發布日期 2024 年 01 月 25 日 18:37 | 分類 材料、設備 , 面板 |
獲美系客戶認證,穎崴推矽光子晶圓級光學 CPO 測試介面方案 |
作者 Atkinson|發布日期 2023 年 10 月 24 日 12:50 | 分類 半導體 , 晶片 , 材料、設備 | edit |
在傳統的電訊傳輸逐漸達到無法突破的極限,光訊號傳輸成為新一代解方,使矽光子及共同封裝光學元件遂成為半導體產業的下一步主流,但卻同時帶給半導體測試介面新的挑戰和商機。半導體測試介面解決方案廠商穎崴科技針對在 CPO 及光訊號傳輸條件下,推出全球首創的晶圓級光學 CPO 封裝(Wafer Level Chip Scale CPO Package)測試系統─微間距對位雙邊探測系統解決方案(Double Sided Probing System Total Solution)。