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宜特推出 Warpage 翹曲量測服務,解決 IC 上板 SMT 空焊早夭現象

作者 |發布日期 2019 年 08 月 07 日 11:40 | 分類 市場動態 , 晶片 , 材料、設備

隨著 MCM 多晶片模組、系統級封裝與 Fan-in / Fan-out 等先進封裝在市場上廣被開發,但是這樣的元件使用的材料相當複雜且多元,堆疊在一起時,卻時常因材質本身熱膨脹係數不同(CTE)產生翹曲(warpage)現象。為協助客戶可以進一步釐清產品翹曲狀況,避免失效,宜特推出翹曲量測服務,預計將可協助客戶獲得晶片與 PCB 的翹曲資訊,藉以改善與預防。 繼續閱讀..