宜特 TEM 材料分析技術突破 10 奈米

作者 | 發布日期 2015 年 07 月 13 日 13:51 | 分類 市場動態 , 晶片 , 會員專區 Telegram share ! follow us in feedly


隨半導體產業朝更先進製程發展之際,iST 宜特科技材料分析檢測技術再突破!iST 宜特經過一整年的衝刺,檢測技術至今年已突破 10 奈米製程,不僅協助多間客戶在先進製程產品上完成 TEM 分析與驗證,其技術能量更深獲 IEEE 半導體元件故障分析領域權威組織 IPFA(International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits,積體電路失效分析論壇)肯定,於會議期間發表最新研究成果。

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