半導體測試介面領導廠商穎崴科技(WinWay Technology)今(14 日)舉辦 CPO 技術論壇,由穎崴科技技術主管孫家彬以「CPO 的進化論—矽光子的先進測試方法論」(The Evolution of Co-Packaged Optics : Advanced Testing Methodologies for Silicon Photonics)為題發表演說,並分享 CPO 為先進測試、高階封裝與半導體測試介面所帶來全新的機會與挑戰。 繼續閱讀..
喜迎高速傳輸新世代!穎崴掌握 CPO 測試介面商機 |
| 作者 林 妤柔|發布日期 2026 年 05 月 14 日 18:19 | 分類 AI 人工智慧 , 光電科技 , 材料、設備 |



