先進製程材料分析與矽光子檢測服務廠汎銓科技18日針對同業公開說明將積極布局矽光子檢測市場,並有市場消息指出此同業的相關光損檢測設備可能涉及向目前遭汎銓提起專利侵權訴訟之廠商採購,基於維護台灣整體科技產業價值與重要性,以及保護公司長期研發投入所累積之競爭優勢,汎銓已責成法務團隊與外部律師進一步了解相關事實,不排除採取任何維護公司智慧財產權及股東權益之必要措施。
汎銓指光損定位成矽光子、CPO 良率關鍵,籲請同業尊重智慧財產權 |
| 作者 Atkinson|發布日期 2026 年 06 月 18 日 18:15 | 分類 半導體 , 晶圓 , 晶片 |



