NI 加強 STS 的 RF 量測效能,藉此降低半導體測試成本

作者 | 發布日期 2016 年 09 月 07 日 10:00 | 分類 市場動態 , 會員專區 , 軟體、系統 Telegram share ! follow us in feedly


NI 發表半導體測試系統(STS)的全新 RF 功能,包含高功率傳輸與接收、FPGA 架構的 Real-Time 封包追蹤,以及數位預失真。

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  • NI 加強 STS 的 RF 量測效能,藉此降低半導體測試成本
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