IBM 攜手 Lam Research 研發 1 奈米以下製程,瞄準 High-NA EUV 技術

作者 | 發布日期 2026 年 03 月 11 日 16:42 | 分類 半導體 , 晶圓 , 晶片 line share Linkedin share follow us in feedly line share
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IBM 攜手 Lam Research 研發 1 奈米以下製程,瞄準 High-NA EUV 技術

IBM 與半導體設備大廠 Lam Research 宣布展開新一輪合作,雙方將共同開發支援 1 奈米以下(sub-1nm)邏輯製程節點的新材料與製造技術,並聚焦 High-NA EUV 微影技術。

根據雙方公布的內容,這項合作將為期五年,目標為未來邏輯晶片建立可行的製造路徑。

在技術合作方面,IBM 將運用其位於紐約 Albany NanoTech Complex 的先進研究設施,而 Lam Research 則提供完整的製程設備與技術,包括 Aether 乾式光阻技術、Kiyo 與 Akara 蝕刻平台、Striker 與 ALTUS Halo 沉積系統等。

雙方計畫建立完整製程流程,用於奈米片與奈米堆疊(nanostack)電晶體架構,以及背面供電(backside power delivery)技術,並驗證 High-NA EUV 圖案在實際晶片層中的轉移與良率表現。

隨著 AI 與高效能運算需求快速成長,半導體產業正持續推進更先進製程節點。以產業龍頭台積電為例,目前最先進量產製程為 3 奈米,並採用鰭式電晶體 FinFET;最近備受矚目的 2 奈米則導入 GAAFET 則採用奈米片(Nanosheet)堆疊方式。

未來台積電亦規劃推出 A14(約 1.4 奈米)製程節點,持續提升晶片密度與能效表現。

電晶體尺寸越小,面臨的困難點越多 ,特別是?

不過,當製程推進至 1 奈米或以下時,半導體產業將面臨多項技術挑戰。

  1. 量子效應與漏電問題:當電晶體尺寸接近原子尺度時,電子行為不再完全符合傳統半導體物理,可能出現穿隧效應(quantum tunneling),導致漏電增加並影響功耗控制。
  2. 材料與微影技術限制:要持續縮小線寬,需導入 High-NA EUV 微影技術,同時光阻與相關材料也可能須重新設計,但相關設備與製程成本相當高昂。
  3. 晶片架構與設計調整:隨著製程持續微縮,電晶體與互連設計需要重新規劃,例如奈米片、奈米堆疊或背面供電等新技術。

Lam Research 技術與永續長 Vahid Vahedi 表示,隨著半導體產業邁向 3D 微縮架構時代,製程突破將取決於材料、製造流程與微影技術的整合。

此次與 IBM 的合作將聚焦 High-NA EUV 乾式光阻與相關製程技術,以加速開發更低功耗、性能更高的電晶體,滿足 AI 時代對運算能力持續成長的需求。

(首圖來源:IBM

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