美大學突破矽晶片堆疊技術,摩爾定律有望再延續數年

作者 | 發布日期 2026 年 06 月 01 日 10:30 | 分類 半導體 , 晶圓 , 晶片 line share Linkedin share follow us in feedly line share
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美大學突破矽晶片堆疊技術,摩爾定律有望再延續數年

伊利諾大學 Grainger 工程學院團隊近日宣布,單晶矽 3D 堆疊晶片取得新突破,為延續摩爾定律的新希望。材料科學與工程教授曹青(Cao Qing,音譯)領導研究,核心在以超薄單晶矽奈米薄膜與低溫製程,把多層矽電路直接疊加在同晶片上,提升運算密度、效能與能源效率。

傳統晶片微縮愈來愈接近物理極限,團隊認為,下一步不再只是把電晶體做得更小,而是改以「向上堆疊」擴充算力。現有多層封裝多半先在不同晶圓完成製作再貼合,這次展示更進一步單體式 3D 整合(monolithic 3D integration),可把各層元件直接逐層做在前一層上方,讓層間連接更密集、距離更短,也有助提升通訊頻寬。

這項方法最大的挑戰在於熱預算。因為完成第一層電路後,後續製程若溫度過高,就可能破壞金屬互連。團隊以厚度不到 10 奈米的單晶矽奈米薄膜,從供體晶圓轉移到已完成電路的接收基板上,並將鍵合溫度控制在不超過 200°C。團隊同時採用無接結(junctionless)電晶體設計,避開傳統高溫摻雜流程,保留單晶矽優勢同時,維持可接受的製造條件。

▲ 單片 3D 靜態隨機存取記憶體單元示意圖(左)與偽色電子顯微鏡影像(右),單元含六個電晶體分布於三層垂直堆疊層。(Source:Illinois

結果顯示,團隊成功做出三層堆疊結構,每層含 625 顆電晶體,整體良率達 98%~100%。元件輸出電流密度可與高溫製作的傳統體矽電晶體媲美,且表現明顯優於其他替代材料製作的單體式 3D 元件,至少高三至四倍。研究員也把各層以垂直金屬互連,完成 3D 邏輯電路與靜態隨機存取記憶體(SRAM)單元。

曹教授指出,這項成果更重要的意義在可擴充性,未來理論還能繼續堆疊更多層。團隊正準備技轉給工業半導體晶圓廠,目標是推動真正可商用的單體式 3D 矽晶片。

(首圖來源:shutterstock)

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