根據 IEEE Spectrum 報導，阿德萊德大學 的研究團隊近期提出一項新型半導體量測技術，利用太赫茲（terahertz）電磁波，即可在不干擾晶片運作的情況下，觀測內部電晶體的活動。研究指出，該方法有望為既有晶片測試提供新的量測方向。 繼續閱讀..
不只探針卡接觸式測試，太赫茲量測開啟晶片檢測新途徑 |
作者
蘇 子芸|發布日期
2026 年 04 月 14 日 15:35 |
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