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助力矽光子與 CPO 量產,均英精密發表 GTK-OSI1 全自動 FAU 全系列被動光學元件檢測機

作者 |發布日期 2026 年 07 月 02 日 14:00 | 分類 光電科技 , 半導體 , 市場動態

AI 基礎建設帶動高速光通訊市場需求攀升,光通訊技術正加速向矽光子 (Silicon Photonics) 與共同封裝光學 (CPO) 架構演進。Fiber Array (FA)、V-Groove (VG) 及 MT、MMC Ferrule 等被動光學元件的精度要求與產能需求大幅提升。均英精密發表GTK-OSI1全自動被動光學元件檢測機,整合 AOI、AI 影像分析與高精度自動化控制技術,導入智動點設置,並採用獨家幾何軌跡演算法,協助製造端建立標準化且具效率的量產品質管理機制。 繼續閱讀..