2016 Semicon Taiwan 展期 NI 祭出三大半導體測試解決方案

作者 | 發布日期 2016 年 09 月 09 日 12:05 | 分類 市場動態 , 晶片 , 軟體、系統 follow us in feedly
新聞稿

NI 國家儀器身為平台式系統供應商,可協助工程師與科學家解決全球最艱鉅的工程挑戰。看準複雜且日新月異的智慧裝置市場,驅動半導體設備商對多重測試的強勁需求,NI 於 2016 Semicon Taiwan 展期祭出三大半導體測試解決方案,分別為可搭配半導體測試系統(STS)使用的高功率 RF 模組、ATE 等級的 PXIe-6570 數位波形儀器,以及兼具速度與靈敏度的 PXIe-4135 電源量測單元(SMU)。




隨著整合到 RF 前端模組的零組件越來越多,市場對高功率 RF 測試有極大的需求。NI 半導體測試系統 (Semiconductor Test System,STS)全新的 RF 功能在 RF 盲插狀態時,能夠以+38 dBm 的速率傳輸,並以+40 dBm 的速率接收,是目前市場上第一個商用化且不用親自建置高功率模組的唯一解決方案。此外,STS 可透過全功能軟體執行 26 GHz 的 S 參數量測、FPGA 架構的 Real-Time 封包追蹤及數位失真,滿足 RF 與混合訊號裝置製造商千變萬化的測試需求,還可為企業降低測試成本且無須犧牲量測的精準度與效能。

為了更完整半導體測試的產品選擇,NI 亦推出 PXIe-6570 數位波形儀器與 NI Digital Pattern Editor,將高階數位測試平台才具備的數位測試功能引進到開放式的 PXI 平台中,讓工程師可妥善運用波形編輯器與除錯工具降低整體的測試成本、提升 RF 與類比 IC 的傳輸率,並讓電源管理 IC、MEMS 裝置與混合訊號 IC 製造商突破傳統半導體自動化測試設備的封閉架構,成為 PXI 上第一個具備 ATE 等級的數位儀器,有助於企業縮短產品的上市時程。

而在半導體的電源量測方面,NI PXIe-4135 SMU 具備 10 fA 的高靈敏度與高達 200V 的電壓輸出,可測試低電流訊號並進行晶圓參數測試、材料研究、低電流感測器與各種 IC 特性測試。此外,工程師還可透過模組化的 PXI SMU 打造體積精巧、平行的多通道數系統,同時享有多達 68 個 SMU 通道的單一 PXI 機箱,能夠針對數百個通道執行晶圓穩定性測試與平行測試。

透過 NI 的三大半導體測試解決方案,半導體設備商可享有最即時的世界級測試服務,讓企業得以從儀器商定義測試內容的封閉式測試解決方案,邁向更開放的模組化測試平台,協助工程師使用更智慧化的半導體測試解決方案,助力客戶通往智慧型半導體測試的階段。 

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