2016 Semicon Taiwan 展期 NI 祭出三大半導體測試解決方案

作者 | 發布日期 2016 年 09 月 09 日 12:05 | 分類 市場動態 , 晶片 , 會員專區 Telegram share ! follow us in feedly


NI 國家儀器身為平台式系統供應商,可協助工程師與科學家解決全球最艱鉅的工程挑戰。看準複雜且日新月異的智慧裝置市場,驅動半導體設備商對多重測試的強勁需求,NI 於 2016 Semicon Taiwan 展期祭出三大半導體測試解決方案,分別為可搭配半導體測試系統(STS)使用的高功率 RF 模組、ATE 等級的 PXIe-6570 數位波形儀器,以及兼具速度與靈敏度的 PXIe-4135 電源量測單元(SMU)。

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