NI 降低無線生產測試成本

身為平台架構系統供應商，NI 一向以協助工程師和科學家克服最艱鉅的工程挑戰為己任，並於 4 月 30 日推出無線測試系統 （Wireless Test System，簡稱 WTS），這項解決方案可大幅降低大量無線生產的測試成本。雖然無線測試的複雜度與日俱增，只要運用專門針對量測速度與平行測試而優化的系統，公司企業仍然可以確實降低測試成本、加倍生產效率。

「所謂的大趨勢 （Megatrend） 包含了物聯網 （IoT） 在內，會促使更多裝置納入 RF 與感測器功能，一般而言，這類功能的測試成本所費不貲。但是測試成本不應該阻礙創新並限制產品的經濟生存力」，Frost & Sullivan 的量測與儀控計畫經理 Olga Shapiro 指出：「為了確保未來的利潤，公司企業必須重新思考原有的無線測試方式，並且接納新的標準。WTS 採用經過業界認證的 PXI 平台，同時具有 NI 的市場專業技術，我們認為這項產品對於 IoT 的收益性有著相當大的影響。」

WTS 結合了 PXI 硬體的最新功能與技術，可透過單一平台滿足多種標準、多種 DUT 與多種連接埠的測試需求。如果再搭配靈活的測試序列軟體一起使用，例如 TestStand Wireless Test Module，製造商還能夠在平行測試多個裝置時，大幅提升儀器的使用率。WTS 具有立即可用的測試序列，適合搭載 Qualcomm 與 Broadcom 晶片組的裝置，此外還配備整合式 DUT 與遠端自動化控制功能，可輕鬆整合至生產線。這樣一來，客戶即可大幅提升 RF 測試設備的效率，進一步降低測試成本。

「WTS 幫助我們降低了 25% 以上的測試成本」，peiker acustic GmbH & Co. KG 的測試設備與器具營造主任表示：「我們能夠運用同個設備所提供的多種無線技術，同時平行測試四個裝置，而且每個裝置都有三個天線埠。」

WTS 是 NI 最新的系統，其中搭載了 PXI 硬體、LabVIEW 與 TestStand 軟體 （請參考 2014 年推出的  STS 半導體測試系統）。WTS 可支援 LTE Advanced、802.11ac 和 Bluetooth Low Energy 等無線標準，並且經過特殊設計，適用於 WLAN 存取點、行動裝置、資訊娛樂系統，以及其他納入行動、無線連接與導航標準的多標準裝置製造測試作業。WTS 搭載軟體設計的 PXI 向量訊號收發器 （VST） 技術，可針對製造測試環境提供優異的 RF 效能，而且這個平台還能夠隨著千變萬化的 RF 測試需求而擴充。

（首圖來源：NI 官網）