Micro LED 顯示器檢測修復大挑戰
作者 | 發布日期 2019 年 06 月 28 日 17:00 | 分類 光電科技 , 晶片 , 會員專區 line share Linkedin share follow us in feedly line share
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Micro LED 顯示器檢測修復大挑戰

為了提升並確保 Micro LED 顯示器的良率，檢測與修復是製程中不可或缺的關鍵步驟。然而，對致力於生產 Micro LED 顯示器的廠商來說，檢測並修復巨量而細小的 Micro LED 晶片，依然是一項艱鉅挑戰。

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