
科學家們近日宣布了一項突破性的顯微技術,這項技術能夠以 1 奈米的空間解析度觀察光與物質的相互作用,這一成就被稱為「超低振幅震盪 s-SNOM」。這項新技術由德國馬克斯·普朗克學會的研究團隊及其國際合作夥伴共同開發。
這項技術的核心在於將散射型掃描近場光學顯微鏡(s-SNOM)與非接觸式原子力顯微鏡(nc-AFM)相結合,並利用在可見光激發下的銀尖端形成的等離子體腔,將光限制在極小的體積內,進而實現前所未有的原子級光學成像。
傳統的s-SNOM方法通常只能達到約10奈米的解析度,無法滿足原子級成像的需求。而這項新技術的出現,將解析度提升至1奈米,讓科學家能夠觀察到原子缺陷、分子及奈米結構等微小特徵,這對於材料科學、電子學及醫療設備的設計具有重要意義。
這項技術的發展不僅突破了以往超高解析顯微鏡的限制,還為未來的研究和技術發展開啟新的可能性。科學家們相信,這種精確的成像能力將對材料的行為和性能產生深遠影響,並推動新材料的設計與應用。該研究成果已於6月11日發表在《科學進展》(Science Advances)期刊上。