瞄準先進封裝挑戰!ERS 大秀散熱與翹曲控制最新解決方案

作者 | 發布日期 2025 年 09 月 09 日 21:17 | 分類 半導體 , 材料、設備 line share Linkedin share follow us in feedly line share
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瞄準先進封裝挑戰!ERS 大秀散熱與翹曲控制最新解決方案

半導體設備製造商、溫度控管解決方案的業界領導廠商 ERS electronic 今(9 日)在 Semicon Taiwan 2025 展會中展示其最新技術,目標是解決晶圓探測、先進封裝脫膠及翹曲調整等關鍵挑戰。

「台灣是先進封裝的核心據點!」ERS 執行長 Laurent Giai-Miniet 指出,2024 年台灣市場貢獻 ERS 公司總營收 33%,預期今年將提升至 48%。展望 2030 年,Giai-Miniet 期望全球營收提升至 2 倍,並預期台灣市場有望貢獻公司營收的一半,同時也會深耕台灣,如擴編台灣團隊,推動實習計畫,提供台灣學生參與機會,以及與台灣的大學及研究機構展開合作。

在技術部分,隨著 AIHPCHBM 面板級封裝(PLP)成為產業焦點,晶片越來越大、越來越薄,ERS 認為帶來高功率散熱(Thermal Management)和翹曲控制(Warpage Control)這兩大挑戰,尤其是後者大尺寸、超薄晶圓與面板在製程中容易變形,將直接影響良率。

也因此,ERS 發表一系列先進解決方案,以滿足半導體產業快速演進的需求,例如 Thermal Chuck Systems 晶圓測試用溫控卡盤系統,具備高功率散熱能力(最高可達 2.5kW),可用於測試 AI 加速器、GPU DRAM/NAND 等高效能裝置。

另一款翹曲調整解決方案,則結合專利的非接觸式晶圓/面板傳送系統與翹曲修正技術,並搭配 3D 翹曲量測工具 Wave3000,適用於晶圓與面板封裝多層疊構的形變控制與品質驗證。

至於傳統雷射剝離(Laser Debonding)容易造成局部過熱與材料損傷,ERS 則推出LumosON 光學剝離機,作為業界領先的臨時接合與剝離(TBDB)解決方案,適用於超薄晶圓與面板級封裝(PLP)製程,支援扇出型封裝(Fan-out)、HBM CoWoS 等異質整合封裝技術。

ERS 在溫度控制與晶圓檢測領域已深耕 55 年,我們經常能完成他人不願承接的任務。」Giai-Miniet 認為這也是公司的優勢之一;ERS 台灣總經理 Sébastien Perino 指出,傳統雷射剝離帶來高成本與材料風險,而 ERS 的光學剝離能量更均勻、過程更溫和,真正能投入量產;先進封裝設備產品行銷經理 Evelyn Weng 則強調,許多公司可以量測翹曲,但只有 ERS 能在生產現場 同時量測、即時修正並修復晶圓。

(首圖來源:科技新報)

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