X 射線檢測:AI、3D 重構價值,中國攻半導體壁壘

作者 | 發布日期 2026 年 01 月 07 日 6:50 | 分類 AI 人工智慧 , 半導體 , 技術分析 line share Linkedin share follow us in feedly line share
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X 射線檢測:AI、3D 重構價值,中國攻半導體壁壘

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X 射線檢測設備產業鏈之運作由下游應用市場差異化需求反向定義,下游應用極端要求,決定中游系統整合商必須採用之技術路徑,進一步指定上游所需之特定核心零組件,例如:1. 半導體和先進封裝需求之奈米級精準與 3D 堆疊內部瑕疵之檢測,此需求迫使中游須開發 3D/CT 成像與 AI 自動重建演算法,並指定上游供應開管微焦點 X 射線源與高解析度探測器;2. 新能源電池需求之高速在線全檢與安全性,此需求則驅動中游發展高速 AI 瑕疵辨識系統,並指定上游供應穩定可靠之閉管 X 射線源;此下游需求驅動模式為決定產業鏈運作之根本動力,亦解釋為何 AI 與 3D/CT 技術正加速普及,因其是滿足半導體和新能源兩大核心市場的嚴苛要求之技術手段。

本篇文章將帶你了解 :
  • 應用需求定義產業鏈,下游差異化決定上游技術堆疊
  • 中國雙軌戰略:新能源領先,以AI優勢突破高階替代