精測布局半導體異質整合,推多款混針技術 MEMS 探針卡 作者 中央社|發布日期 2021 年 12 月 28 日 17:30 | 分類 封裝測試 , 零組件 | edit SEMI Taiwan 國際半導體展今天起登場,測試介面廠中華精測現場秀出各式微機電探針卡方案,並且展示導入混針技術的固態硬碟快閃記憶體控制晶片探針卡。 繼續閱讀..