Tag Archives: 翹曲

Amkor 估英特爾玻璃基板三年商業化,挑戰 AI 封裝載板新架構

作者 |發布日期 2026 年 04 月 29 日 10:41 | 分類 PCB , 封裝測試

根據 Wccftech 報導,隨 AI 晶片與高頻寬記憶體(HBM)整合規模持續擴大,先進封裝對載板尺寸、訊號傳輸與熱管理能力要求快速提高,也推升下一代基板技術布局。Amkor Technology 表示,由 Intel 推動的玻璃基板(Glass Substrate)技術,預計三年內有望迎來首次商業化。 繼續閱讀..

宜特推出 Warpage 翹曲量測服務,解決 IC 上板 SMT 空焊早夭現象

作者 |發布日期 2019 年 08 月 07 日 11:40 | 分類 市場動態 , 晶片 , 材料、設備

隨著 MCM 多晶片模組、系統級封裝與 Fan-in / Fan-out 等先進封裝在市場上廣被開發,但是這樣的元件使用的材料相當複雜且多元,堆疊在一起時,卻時常因材質本身熱膨脹係數不同(CTE)產生翹曲(warpage)現象。為協助客戶可以進一步釐清產品翹曲狀況,避免失效,宜特推出翹曲量測服務,預計將可協助客戶獲得晶片與 PCB 的翹曲資訊,藉以改善與預防。 繼續閱讀..