如何對抗電子產品殺手？談積體電路的靜電防護、閂鎖效應的測試方案及失效驗證流程 |
作者
TechNews|發布日期
2023 年 11 月 13 日 9:00 |
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任何電子產品都有其使用期限，以及對可靠性的要求。那麼如何去度量產品的可靠性好不好呢？基本上就會考慮使用環境的條件，如電壓、溫度、濕度或任何環境下不利的因子，代入失效模型後，便可估算出產品的使用年限。
恩智浦全新 TrEOS 系列為 Type-C 等超高速介面提供最佳 ESD 保護 |
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作者
TechNews|發布日期
2015 年 11 月 12 日 11:20 |
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恩智浦半導體（NXP Semiconductors N.V.）宣布推出全新 TrEOS 保護系列產品，該產品系列整合超低電容、低箝制電壓、超高靜電放電（Electrostatic Discharge，ESD）耐用度及抗浪湧能力於一身，此三大關鍵參數在運作同時呈現最佳指標，為目前業界首見，因此特別適用於包括 USB Type-C 在內的超高速傳輸介面，為其應用提供最全面的靜電放電保護。 繼續閱讀..
