隨著車聯網、自駕技術與電動車的迅速發展，車用電子市場正面臨日益嚴苛的驗證挑戰。從 ISO 26262 功能安全標準到 AEC-Q 可靠度規範，驗證需求已超越傳統，進化為涵蓋全系統整合、智慧預防與市場競爭力提升的新格局。（資料來源：閎康科技；文章編修：科技新報）
▲ MAtek X SGS 攜手驅動車用電子認證進化論（Source:閎康科技）
為應對這些挑戰，閎康科技攜手全球認證領導者 SGS，結合雙方在功能安全、可靠度測試、軟失效分析以及失效材料鑑定的專業技術，推出車用電子驗證全方位解決方案，助力產業應對未來需求。本次聯合研討會，聚焦 ISO 26262 V-model 設計與測試需求，深入探討 AEC-Q 暫態性失效測試，以及分享 FA Total-Solution 實戰案例。
活動預計涵蓋四場專業演講，包括 SGS 張國樑技術經理〈半導體晶片幅和車用功能安全標準 ISO26262 與可靠度需求〉，演講將聚焦 ISO 26262 功能安全標準對半導體晶片的核心要求；第二場由閎康科技張筌鈞副處長〈車用電子零件驗證與挑戰〉，針對車用電子零件的驗證，從行業現狀、核心挑戰到合作夥伴的選擇，為與會者提供全面的思路。第三場則為 SGS 鄭振維經理〈AEC-Q 以及 ISO26262 對暫態性失效之測試要求：如何降低器件的暫態性失效？〉，將分享如何有效應對暫態性失效，並提供實用的解決方案。第四場則為閎康科技故障分析事業群林于騰副處長〈FA Total-solution Procedure and Case Sharing〉，講座涵蓋故障分析（FA）全流程，包括非破壞性分析（Level I）、電性失效分析（Level II）及物理失效分析（Level III），結合 IC 設計、封裝和可靠性測試中的實際案例，展示如何透過關鍵技術應用，提升車用電子元件的整體可靠度，並有效解決關鍵故障問題。透過本次研討會，與會者將全面掌握車用電子技術的未來發展方向，並挖掘市場競爭優勢。
活動現正熱烈報名中，名額有限，誠邀各界專業人士共同參與，與我們一起引領車用電子驗證新未來！
報名詳情，請參考活動官網：報名網址（另開視窗）。（活動報名至 12/31）
（首圖來源：Shutterstock；資料來源：閎康科技）
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