ASML 跨足半導體後段製造市場,為什麼能拓展全方位微影概念?

作者 | 發布日期 2025 年 11 月 27 日 11:30 | 分類 IC 設計 , 半導體 , 封裝測試 line share Linkedin share follow us in feedly line share
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ASML 跨足半導體後段製造市場,為什麼能拓展全方位微影概念?

隨著人工智慧(AI)晶片和高效能運算(HPC)需求的爆發,半導體產業正加速邁向異質整合與先進封裝的時代。傳統上,微影技術多聚焦於前端晶圓製造,然而,後段封裝所需的微影製程能力,已成為下一代系統單晶片(SoC)設計的關鍵瓶頸。為了解決晶片尺寸不斷擴大及晶圓翹曲(warpage)帶來的製程難題,全球微影設備領頭羊艾司摩爾(ASML)近日宣布推出新型微影機台 XT:260,大幅擴大了曝光場(Exposure Field)的範圍,顯著提升先進封裝製程的效率與良率。

ASML表示,現代晶片設計越來越依賴垂直與水平的「堆疊方式」來實現更強大的功能與更高的頻寬。這類堆疊通常包含多種異質元件,例如在處理器單元中,最新的 GPU(例如B200)或 CPU。這些元件可以進行混合搭配(mix and match)。而在記憶體領域,DRAM被垂直堆疊後形成所謂的HPM(High-Performance Memory),這是高頻寬記憶體(HBM)的簡化說法。

最後在光電整合的共封裝光學(CPO)上,雖然尚未量產,但ASML認為這是未來幾年內將發生的重要技術轉折點。在這些複雜的結構中,中介層(interposer)扮演了關鍵的橋接作用。尤其是中介層上佈有電路,因此必須進行曝光製程才能將電路圖案打出來。

ASML指出,根據台積電(TSMC)的技術藍圖(Radow Map),業界普遍使用「光罩尺寸(reticle size)」來衡量中介層的大小。一個reticle size可以被視為一個單位的面積。目前業界的組裝尺寸大約在3.x片到5.x片光罩大小的水準。然而,技術發展目標預計將做到大約八片光罩大小。對此,ASML強調,隨著尺寸的增加,傳統微影機台面臨兩大核心挑戰。

首先是曝光場限制,由於傳統微影機台的單次曝光場範圍有限,若要處理多達八倍光罩大小的大型中介層,必須分區多次進行曝光。這會大幅降低製造效率。第二個挑戰就是晶圓翹曲(Warpage),因為在先進封裝的世界裡,有一條與微觀世界相反的規律,那就是「尺寸越大,製程難度越高。」當許多不同晶片被放置在一起時,由於不同材料的熱膨脹係數不一致,晶圓在受熱後會發生彎曲,即產生翹曲。微影設備必須具備處理這種彎曲晶圓的能力。

為應對上述挑戰,ASML於2025年推出了XT:260新機台。這台新設備的核心突破在於顯著擴大了曝光場的大小,從而使曝光效率獲得大幅提升。根據ASML展示的數據顯示,XT:260機台的D.P.(產出率)表現相較於競爭對手的設備呈現出大幅度的提升。此外,XT:260特別具備處理翹曲晶圓的能力。這項技術突破使得機台能夠適應因異質整合導致的晶圓彎曲問題。

ASML表示,這項成果是公司的一個「非常重要的里程碑」,因為它代表ASML在過去較少被提及的後段封裝領域投入了大量的時間進行研發。另外,XT:260的應用層面極廣,不只包含中介層(interposer),還包括3DIC(三維積體電路),台積電稱之為SoIC(System-on-Integrated-Chips)的相關技術。還有光電整合的CPO部分的應用案例。這些方向與ASML所提及的「全方位微影(holisticography)」的概念相同,暗示未來的微影技術將是一個系統性的整合解決方案。

(首圖來源:ASML提供)

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