Tag Archives: 檢測設備

X 射線檢測:AI、3D 重構價值,中國攻半導體壁壘

作者 |發布日期 2026 年 01 月 07 日 6:50 | 分類 AI 人工智慧 , 半導體 , 技術分析

X 射線檢測設備產業鏈之運作由下游應用市場差異化需求反向定義,下游應用極端要求,決定中游系統整合商必須採用之技術路徑,進一步指定上游所需之特定核心零組件,例如:1. 半導體和先進封裝需求之奈米級精準與 3D 堆疊內部瑕疵之檢測,此需求迫使中游須開發 3D/CT 成像與 AI 自動重建演算法,並指定上游供應開管微焦點 X 射線源與高解析度探測器;2. 新能源電池需求之高速在線全檢與安全性,此需求則驅動中游發展高速 AI 瑕疵辨識系統,並指定上游供應穩定可靠之閉管 X 射線源;此下游需求驅動模式為決定產業鏈運作之根本動力,亦解釋為何 AI 與 3D/CT 技術正加速普及,因其是滿足半導體和新能源兩大核心市場的嚴苛要求之技術手段。 繼續閱讀..

蔡司投資台中品質卓越中心動土,預計 2026 年第一季落成

作者 |發布日期 2025 年 05 月 21 日 3:30 | 分類 光電科技 , 半導體 , 財經

首度參加 Computex Taipei 的德國光學龍頭蔡司(ZEISS),20 日在會場上宣布,延續 2024 年開始投資台灣百億元的十年計畫,繼先前於竹科斥資超過 3 億元打造的台灣首座新創中心之後,位於台中的品質卓越中心(QualityExcellence Center,QEC)也已於 5 月份動土,預計 2026 年第一季落成。該中心將致力成為專業實驗室,為產業客戶提供產品檢測和品質驗證服務,協助夥伴穩健應對 AI 帶來的變革。

繼續閱讀..