KLA 推出革命性 X 射線量測系統,解決記憶體晶片垂直結構量測挑戰 作者 Atkinson|發布日期 2022 年 12 月 07 日 14:50 | 分類 半導體 , 晶片 , 會員專區 | edit 半導體設備廠科磊 (KLA) 宣布推出革命性的 Axion T2000 X 射線量測系統,供先進的記憶體晶片製造商使用。 繼續閱讀..