KLA 推出革命性 X 射線量測系統，解決記憶體晶片垂直結構量測挑戰
作者 | 發布日期 2022 年 12 月 07 日 14:50 | 分類 半導體 , 晶片 , 會員專區 line share Linkedin share follow us in feedly line share
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KLA 推出革命性 X 射線量測系統，解決記憶體晶片垂直結構量測挑戰

半導體設備廠科磊 (KLA) 宣布推出革命性的 Axion T2000 X 射線量測系統，供先進的記憶體晶片製造商使用。

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