Tag Archives: 柳紀綸

汎銓提告光焱科技侵權光損偵測裝置專利,請求賠償新台幣 2 億元

作者 |發布日期 2026 年 03 月 25 日 15:30 | 分類 IC 設計 , 光電科技 , 半導體

汎銓科技在 25 日表示,因為發現同業光焱科技涉及侵犯該公司的 「光損偵測裝置」 專利相關之設備及技術方案,因此正式向智慧財產及商業法院提起訴訟,主張光焱科技侵害汎銓所擁有之中華民國第 1870008 號「光損偵測裝置」發明專利。對此,光焱科技截稿前沒有做出回應。

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汎銓已落地美國服務客戶,20% 稅率對等關稅將是利大於弊

作者 |發布日期 2025 年 08 月 01 日 16:40 | 分類 公司治理 , 半導體 , 國際觀察

針對 1 日美國宣布對台灣施以稅率 20% 的對等關稅,當天正好舉行公司成立 20 週年音樂會的半導體檢測分析廠汎銓,董事長柳紀綸在面對媒體詢問時表示,隨著旗下美國子公司 MSS USA CORP 的矽谷實驗室於 5 月時的開幕,象徵汎銓已在美國落地服務客戶。因此,對等關稅對汎銓是利多於弊,當地市場將會是未來成長主力。

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檢測廠汎銓科技 SAC-TEM Center 新廠上梁,瞄準埃米世代之後市場商機

作者 |發布日期 2025 年 04 月 02 日 12:30 | 分類 公司治理 , 半導體 , 晶片

半導體檢測企業汎銓科技 2 日在竹北舉行 SAC-TEM Center 的新廠上梁典禮,董事長柳紀綸在典禮致詞時表示,半導體製程進入 2 奈米節點製程之後,半導體製程中微小的蝕刻、新材料複雜度提升,精準材料分析 (MA) 技術服務需求殷切。因此,透過新廠建構的服務,未來將能滿足相關的市場需求。

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