Tag Archives: 測試插座

探針卡與測試插座迎接漲價潮，大摩給旺矽與穎崴優於大盤評價
作者 |發布日期 2026 年 07 月 01 日 11:50 |
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分類 半導體 , 封裝測試 , 證券

隨著貴金屬價格持續攀升，以及測試探針（test pin）產能出現嚴重短缺，半導體供應鏈預計將迎接新一波的成本轉嫁。根據摩根士丹利（Morgan Stanley，大摩）最新發布報告指出，供應鏈調查顯示，探針卡（probe card）與測試插座（test socket）供應商極有可能調漲價格，將增加的成本轉嫁給客戶，此趨勢與半導體產業的其他領域發展相似。

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股后穎崴盤中衝破 8,000 元創新高，外資目標價上看萬元
作者 |發布日期 2026 年 03 月 23 日 16:52 |
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分類 AI 人工智慧 , 半導體 , 封裝測試

半導體測試介面大廠穎崴今（23 日）股價一度突破 8,000 元關卡、寫下歷史新高，隨後在平盤下震盪，終場以 7,885 元作收、下跌 0.57%。受惠於產能擴張與訂單能見度支撐，美系外資花旗將穎崴目標價上調至新台幣 10,000 元，同時上修 2027 年每股盈餘（EPS）預估至 220 元。 繼續閱讀..