半導體隨機性（stochastics）誤差量測解決方案提供商 Fractilia 指出，在最先進的製程節點中，由於不受控制的隨機性圖案變異導致良率下降及生產進程延誤，製造商的每間晶圓廠損失高達數億美元。這些影響甚鉅的變異為「隨機性」，如今已成為先進製程節點量產（high-volume manufacturing，HVM）階段達到預期良率的最大阻礙。
Fractilia 提供隨機性圖案變異半導體製造解決方案，為業者減少數十億美元損失 |
作者
Atkinson|發布日期
2025 年 07 月 19 日 11:00 |
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