高速全自動檢測設備客製化,開創晶圓檢測商機

作者 | 發布日期 2015 年 08 月 04 日 14:50 | 分類 市場動態 , 晶片 , 會員專區 Telegram share ! follow us in feedly


隨著消費性電子產品需求快速增長,對於 IC 精密檢測的需求亦不斷提高,推動了自動化檢測設備的市場發展。國家實驗研究院儀器科技研究中心(以下簡稱儀科中心)透過「光學系統整合研發聯盟」平台,結合巨積精密技術有限公司與臺灣師範大學機電工程系張天立教授研究團隊,共同研發「晶圓電性測試暨電路瑕疵檢測設備」,可協助國內廠商於半導體後段製程中快速精準判斷與篩選晶圓良窳。

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