韓國開發全球首台高速測量設備，檢測顯示器的奈米薄膜表面缺陷
作者 | 發布日期 2024 年 01 月 25 日 18:37 | 分類 會員專區 , 材料、設備 , 面板 line share Linkedin share follow us in feedly line share
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韓國開發全球首台高速測量設備，檢測顯示器的奈米薄膜表面缺陷

韓國檀國大學（Dankook University）22 日宣布，開發出全球第一台設備，可快速測量手機等各種顯示器表面的奈米薄膜表面缺陷。

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