韓國開發全球首台高速測量設備,檢測顯示器的奈米薄膜表面缺陷 作者 林 妤柔|發布日期 2024 年 01 月 25 日 18:37 | 分類 材料、設備 , 面板 | edit 韓國檀國大學(Dankook University)22 日宣布,開發出全球第一台設備,可快速測量手機等各種顯示器表面的奈米薄膜表面缺陷。 繼續閱讀..