韓國檀國大學（Dankook University）22 日宣布，開發出全球第一台設備，可快速測量手機等各種顯示器表面的奈米薄膜表面缺陷。
顯示器通常會經過一道工序，即在表面貼上一層 20-40 奈米厚的奈米薄膜，使其變得光滑。過去要辨識奈米薄膜必須使用透社電子顯微鏡、原子力顯微鏡和掃描電子顯微鏡等耗時方法，因此難以定量測量，且常常導致次級品出廠。
尤其是可摺疊和柔性顯示器，是使用光學透明黏合劑來黏合每一層，因此常在摺疊點出現分層，導致整個產品報廢。
在韓國公司 Powel 支持下，Han Kwan-Young 帶領的研究團隊開發出一種設備，利用高解析度相機拍攝顯示器基板奈米薄膜表面，測量每個表面的能量（energy），以確定缺陷。
這款設備可在 40 秒內測量 8 吋顯示螢幕的整個區域，進而快速確定缺陷。據報導，利用該設備可預先篩查每個奈米薄膜中的缺陷，確保只使用無缺陷材料，進而大大降低產業成本，提高生產率。
Han Kwan-young 教授指出，顯示器快速發展和產品逐步複雜，使得公司在開發和大規模生產材料的損失增加，因此開發這個設備。團隊未來也會研究有關 AR 和 VR 光學系統，以及 Micro LED 轉移和再生的檢測技術和應用技術。
檀國大學指出，研究成果已於去年 12月在日本 IDW 進行展示，也已經申請核心專利，計畫今年 5 月在美國 SID 進行展示。
（首圖來源：檀國大學）
科技新報粉絲團
加入好友
訂閱免費電子報
