從天文觀測切入半導體!Wooptix 如何從量測克服微縮下翹曲、形變痛點?

作者 | 發布日期 2026 年 04 月 17 日 23:21 | 分類 半導體 , 晶圓 , 材料、設備 line share Linkedin share follow us in feedly line share
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從天文觀測切入半導體!Wooptix 如何從量測克服微縮下翹曲、形變痛點?

隨著先進製程、先進封裝等技術演進,量測技術逐漸扮演重要角色。半導體波前相位影像量測業者 Wooptix 先前獲得英特爾、三星、TEL 等旗下投資機構的投資,到底這項技術重要性在哪?

Wooptix 技術源自於泰德天文台(Teide Observatory)的應用,這項技術能精準觀測數百萬公里外的恆星,該技術原本用於精準觀測數百萬公里外的恆星,具備極高解析度與波前量測能力。執行長 Jose Manuel Ramos 思考:若這項技術能觀察遙遠的恆星,是否也能延伸至其他領域?

在這樣的思路下,半導體成為新方向——因為「看得遠」的能力,意味著同樣具備「看得極近」的潛力。Wooptix 正是將這種高精度量測技術轉化為可應用於微觀尺度的解決方案,並以此作為其在半導體量測領域的核心定位。

製程微縮面臨翹曲問題,Wooptix 鎖定 3D 量測技術提升良率控制

隨著製程持續微縮、記憶體架構邁向垂直堆疊,以及晶背供電逐漸成為關鍵技術,「量測」的重要性日益凸顯。Wooptix 企業事務暨專案管理專員 Roberto Pangallo 指出,當半導體製程朝向更高度的垂直整合發展時,整體製程複雜度顯著提升,材料內部所承受的應力(stress)也同步增加,進一步墊高製造失敗的風險。

在此趨勢下,晶圓翹曲(warpage)與對位精度都成為關鍵挑戰。以晶背供電為例,其涉及晶圓翻面與研磨等製程,由於結構變薄且應力分布改變,極易產生形變,進而導致對位誤差。這類誤差往往在不同晶粒位置呈現不一致性,因此必須在製程前期即透過高精度量測與補償機制加以修正,才能確保整體良率表現。

對此,Wooptix 的關鍵技術在於以角度量測推算距離與深度。當系統能精準掌握光學角度的細微變化,即可重建空間中的距離資訊,進一步將影像中每個像素對應至特定的深度位置,同時兼顧量測與檢測能力。

 

短期聚焦 lab-level 合作,中長期盼走向商業化

目前 Wooptix 也跟 ASMLimec 在歐洲進行聯盟合作,短期先聚焦實驗室等級(lab-level)的設備合作,而非立即切入大規模量產產線,中長期則期盼走向商業化。該公司已於去年公布最新 Phemet 晶圓製程在線量測系統,逐步強化製造與交付能力,並以歐洲供應鏈為核心,逐步延伸至東歐、亞洲市場。

談到未來可能的商業模式,Wooptix 採取雙軌並行策略,一方面直接與晶圓廠(fab)客戶合作,針對其製程痛點提供量測解決方案;另一方面則攜手製程設備商,將自身技術整合進既有設備平台,隨設備一同導入終端客戶。其中,「嵌入式解決方案」(embedded solution)透過將量測模組內嵌於設備之中,不僅可降低導入門檻、設計上具備高度彈性,也能維持既有製程流程的完整性。

Wooptix 預期,半導體設備導入通常需經歷約 18 至 24 個月的驗證週期。在此期間,公司將同步完善供應鏈體系,確保未來具備量產與交付能力。整體而言,保守預估 2027 年第四季至 2028 年第四季之間,有機會正式打入晶圓廠供應鏈體系,實現商業落地。

(首圖來源:科技新報)

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