基於顯微成像系統的 micro-LED 表面亮度檢測 作者 LEDinside | 發布日期 2018 年 09 月 25 日 9:43 | 分類 光電科技 , 會員專區 , 材料、設備 | edit 廈門大學與新竹交通大學的科研團隊(郭浩中、吳挺竹、佘慶威)近期合作開發了一種基於顯微成像系統的 Micro-LED 表面亮度檢測系統,可以快速測量 Micro-LED 陣列在工作時任意位置的絕對亮度值。 從這裡可透過《Google 新聞》追蹤 TechNews 科技新知,時時更新 科技新報粉絲團 加入好友 訂閱免費電子報 關鍵字: lcd , Micro LED , OLED , 面板 , 顯示器