中國研發出穿透式電子顯微鏡，有助半導體製造提高良率
作者 | 發布日期 2024 年 01 月 24 日 7:15 | 分類 中國觀察 , 半導體 , 晶圓 line share Linkedin share follow us in feedly line share
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中國研發出穿透式電子顯微鏡，有助半導體製造提高良率

穿透式電子顯微鏡 (TEM) 是半導體材料開發和晶片製造流程中使用的關鍵工具之一。根據《南華早報》報導，2022 年中國花費數億美元從海外公司購買穿透式電子顯微鏡。如今，由於中國 Bioland 實驗室已經開發出了自己的穿透式電子顯微鏡，這使得中國將不需要再對外採購這項設備。

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