助力矽光子與 CPO 量產,均英精密發表 GTK-OSI1 全自動 FAU 全系列被動光學元件檢測機

作者 | 發布日期 2026 年 07 月 02 日 14:00 | 分類 光電科技 , 半導體 , 市場動態 line share Linkedin share follow us in feedly line share
Loading...
助力矽光子與 CPO 量產,均英精密發表 GTK-OSI1 全自動 FAU 全系列被動光學元件檢測機

AI 基礎建設帶動高速光通訊市場需求攀升,光通訊技術正加速向矽光子 (Silicon Photonics) 與共同封裝光學 (CPO) 架構演進。Fiber Array (FA)、V-Groove (VG) 及 MT、MMC Ferrule 等被動光學元件的精度要求與產能需求大幅提升。均英精密發表GTK-OSI1全自動被動光學元件檢測機,整合 AOI、AI 影像分析與高精度自動化控制技術,導入智動點設置,並採用獨家幾何軌跡演算法,協助製造端建立標準化且具效率的量產品質管理機制。

雙鏡頭架構配合微米級精度,滿足次世代光通訊良率要求

面對矽光子架構對微米級元件的嚴格公差要求,GTK-OSI1採用1,800萬畫素雙鏡頭架構,分別進行特徵辨識與細部量測。機台影像量測重複性方面,FA及VG可達3σ±0.05 μm,MT、MMC Ferrule則可達3σ±0.1μm。此高規格量測精度,不僅能全面符合現階段主流光學元件的檢測規範,更具備前瞻性,可延伸支援未來6.4T、12.8T等次世代高速光通訊元件的超高密度量測需求,協助客戶落實兼具當前效益與未來擴充性的設備投資佈局。

導入智動點設置功能與半導體自動化定位,實現規模化量產檢測

為了因應市場從高精度製造邁向規模化生產的轉型,GTK-OSI1導入應用於半導體設備高精度三軸定位技術與智動點設置功能,自動完成孔位搜尋與量測。機台配備兩款專用治具,支援多種主流被動光學元件。產品設計採用獨家幾何軌跡演算,以MT、MMC Ferrule為例,單次檢測可完成20件產品量測,單一孔位或勾槽量測時間小於1秒,大幅最佳化檢測效率並降低依賴人工檢測。

均英精密長期深耕光學精密加工、自動化設備及光通訊相關製程開發,累積豐富被動光學元件製造與量測經驗。此次推出GTK-OSI1,旨在將豐富的製程經驗轉化為標準化設備,協助客戶在光通訊技術轉型期,建構兼具效率與高一致性的量產檢測解決方案。

關於均英精密

均英精密自1992年總部設立於台灣桃園,擁有自有模具廠、自動化廠與射出成形廠。工廠通過ISO 9001認證,為半導體、光學、光通訊、醫療、電子等產業提供關鍵零組件與自動化系統整合解決方案。均英不僅提供OEM/ODM服務,更憑藉深厚產業經驗,長期與跨國企業合作,協助客戶最佳化全球製程、提升產線良率,持續為合作夥伴實現最高的附加價值。

欲了解更多資訊,請造訪gentk.com或追蹤LinkedIn官方帳號。

(本文由 PR Newswire 授權轉載)

想請我們喝幾杯咖啡?

icon-tag

每杯咖啡 65 元

icon-coffee x 1
icon-coffee x 3
icon-coffee x 5
icon-coffee x

您的咖啡贊助將是讓我們持續走下去的動力

總金額共新臺幣 0
《關於請喝咖啡的 Q & A》