Tag Archives: 光焱

汎銓、光焱侵權之爭,宜特:矽光子技術非單一檢測設備專利所能壟斷

作者 |發布日期 2026 年 03 月 27 日 8:15 | 分類 光電科技 , 半導體 , 晶片

針對同業近期對本公司技術合作夥伴提起專利侵權訴訟,並指稱將進一步提告宜特科技,意圖藉此干預矽光子驗證分析市場秩序之舉,宜特科技(以下簡稱本公司)26 日嚴正聲明。本公司一向高度尊重智慧財產權,然截至目前為止,本公司並未收到任何相關訴訟函件。對於同業在未經司法程序前,即試圖透過媒體發布資訊煙霧彈,假以法律手段干擾市場正常運作、阻礙產業創新之行為,本公司深感遺憾,並對此類不正當之競爭手段予以嚴正譴責。

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侵權官司你來我往,汎銓秀出訴狀籲光焱應面對法律

作者 |發布日期 2026 年 03 月 26 日 21:00 | 分類 光電科技 , 半導體 , 財經

針對汎銓與光焱兩家科技公司的侵權訴訟,目前有越演越激烈的跡象,雙方都發發出聲明後足於互不相讓的階段。根據最新的進展顯示,在光焱科技於 26 日下午發出言詞犀利的反擊聲明之後,晚間汎銓科技也對此進行說明,並展示相關訴訟狀,以進一步表明捍衛權力決心。

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遭汎銓提告侵權!光焱科技:尚未收到法院訴狀,強調核心技術自主研發

作者 |發布日期 2026 年 03 月 25 日 18:45 | 分類 光電科技 , 公司治理 , 材料、設備

針對媒體報導汎銓向智慧財產及商業法院提起專利侵權訴訟一事,光焱科技於 25 日發布重大訊息予以澄清。光焱科技強調,目前尚未收到法院送達之相關起訴狀,且公司核心技術皆為自主研發,此案目前對公司財務與業務並無重大影響,各項營運與設備出貨均正常進行。

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汎銓提告光焱科技侵權光損偵測裝置專利,請求賠償新台幣 2 億元

作者 |發布日期 2026 年 03 月 25 日 15:30 | 分類 IC 設計 , 光電科技 , 半導體

汎銓科技在 25 日表示,因為發現同業光焱科技涉及侵犯該公司的 「光損偵測裝置」 專利相關之設備及技術方案,因此正式向智慧財產及商業法院提起訴訟,主張光焱科技侵害汎銓所擁有之中華民國第 1870008 號「光損偵測裝置」發明專利。對此,光焱科技截稿前沒有做出回應。

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