蔚華科與衡陞科技宣布推出埃米級尺度探針，因應埃米時代來臨

半導體測試解決方案廠商蔚華科攜手奈米級金屬探針製造商衡陞科技 (MesoScope Technology) 共同宣布全新埃米維度尺度探針產品正式上市，埃米尺度探針及量測技術可用於解決新進製程發展阻礙，致力為半導體量測領域帶來全方位的解決方案。

隨著高速運算、神經網路、量子電腦、無人駕駛等科技產業需求快速攀升，發展低功耗、小尺寸、異質整合及超高運算速度的晶片架構技術，已成為全球半導體製造業者最重要的產業趨勢與決勝關鍵。在預見未來半導體的產品架構進化下，摩爾定律將得以維持，單位面積下的電晶體將持續成長，尺寸的不斷微縮也對探針提出了更高的要求。衡陞科技已成功利用 M.S.T. 技術去克服製造上的困難，成功將產品從奈米維度推向埃米維度，現已開發並正式量產高達 14 種不同尺寸的探針，可被廣泛應用於不同領域，從封裝的 Pad 量測到電晶體的特性量測，其最先進的 CR1(Curvature Radius 1nm) 探針可被應用于 2 奈米以下製程之故障分析使用。

相較於其他製造技術，衡陞科技透過 M.S.T. 技術，得以在不破壞材料組成結構下，穩定將探針針尖尺寸微縮到埃米等級，可提供探針更好的韌性，並可搭配全球領先的奈米探針品牌 Kleindiek Nanotechnik，將奈米級電性量測與器件表徵技術可廣泛應用於各種複雜與高速器件的研發過程，以確保品質及可靠性，並縮減研發時間和器件製造工藝的成本，可滿足台灣晶片研發製造產生龐大的市場需求。

衡陞科技董事長黃信豪表示，合作一年多來，蔚華科展現經營兩岸半導體業多年來累積的豐富產業資源及客戶關係，高可靠度的製程與品質保證解決方案及高彈性的客戶服務品質深受業界肯定。蔚華電子科技（上海）總經理楊向群表示，衡陞科技在奈米探針和奈米量測具有世界級技術領先優勢，此次引進全球領先的埃米尺度探針，配合此前奈米探針品牌 Kleindiek Nanotechnik 以及衡陞科技的奈米探針量測服務，進一步優化了蔚華的產品線，提升了蔚華製程品質保證解決方案的完整性。

(首圖來源：蔚華科提供)