均豪精密今(29 日)在 SEMICON 半導體展前媒體茶敘中表示,這次展出的 Wafer AOI 設備,具獨步業界的多視野彩色線掃描系統(color one scan)及自動缺陷檢測和分類功能,全自動自相關比對演算法,可對應表面瑕疵/Particle 全分類。 繼續閱讀..
均豪跨足 FOPLP 封裝設備,提供檢測、研磨解決方案 |
作者 林 妤柔|發布日期 2024 年 08 月 29 日 18:18 | 分類 半導體 , 材料、設備 , 零組件 |