檢測廠汎銓科技 SAC-TEM Center 新廠上梁,瞄準埃米世代之後市場商機 |
作者 Atkinson|發布日期 2025 年 04 月 02 日 12:30 | 分類 公司治理 , 半導體 , 晶片 |
Tag Archives: 材料分析
檢測 IC 半導體製程必不可少的精密儀器,材料分析技術一日千里 |
作者 TechNews|發布日期 2023 年 05 月 24 日 9:00 | 分類 半導體 , 尖端科技 , 晶圓 |
穿透式電子顯微鏡 (Transmission Electron Microscope, TEM)是觀察微小結構及原子排列的最常用分析方法。隨著 IC 半導體 (Semiconductor) 的發展,車用鋰 (Li)電池、量子電腦 (Quantum Computer)、第四代 III-V 族化合物半導體、二維材料如石墨烯 (Graphene) 等新材料的分析需求與日俱增,提高電子顯微鏡所具備的解析度也成為當務之急。

先進製程與第三代半導體接連助力,汎銓科技營運受期待 |
作者 Atkinson|發布日期 2021 年 08 月 26 日 15:15 | 分類 晶片 , 會員專區 , 材料、設備 |
半導體分析服務供應商汎銓科技受惠於兩岸包括半導體上、中、下游產業客戶持續推進先進製程升級、以及擴大第三代半導體材料的研發技術投入,帶動汎銓材料分析 (MA) 訂單與業績的成長,整體故障分析 (FA) 的市占率不斷提升,貢獻截至 2021 年前 7 月合併營收新台幣 7.95 億元,年增 32.82%,2021 上半年整體毛利率達 35.47%、稅後每股 EPS 2.07 元,且材料分析服務訂單仍呈現供不應求,挹注下半年營運可望呈跳躍式成長。