台積電嘉義封裝廠工程順利,第一廠逾二成在地員工 |
| 作者 中央社|發布日期 2025 年 11 月 28 日 18:35 | 分類 公司治理 , 半導體 , 封裝測試 |
Category Archives: 封裝測試
ASML 跨足半導體後段製造市場,為什麼能拓展全方位微影概念? |
| 作者 Atkinson|發布日期 2025 年 11 月 27 日 11:30 | 分類 半導體 , 封裝測試 , 晶圓 |
隨著人工智慧(AI)晶片和高效能運算(HPC)需求的爆發,半導體產業正加速邁向異質整合與先進封裝的時代。傳統上,微影技術多聚焦於前端晶圓製造,然而,後段封裝所需的微影製程能力,已成為下一代系統單晶片(SoC)設計的關鍵瓶頸。為了解決晶片尺寸不斷擴大及晶圓翹曲(warpage)帶來的製程難題,全球微影設備領頭羊艾司摩爾(ASML)近日宣布推出新型微影機台 XT:260,大幅擴大了曝光場(Exposure Field)的範圍,顯著提升先進封裝製程的效率與良率。



