日月光:全球半導體產值估逾 1 兆美元,看好無人機與機器人等新興應用 |
| 作者 中央社|發布日期 2026 年 04 月 24 日 18:10 | 分類 AI 人工智慧 , 半導體 , 封裝測試 |
Category Archives: 封裝測試
從元件到系統:AEC-Q104 Rev.A 重塑車用多晶片模組驗證邏輯 |
| 作者 TechNews|發布日期 2026 年 04 月 22 日 9:00 | 分類 半導體 , 封裝測試 |
AI、ADAS 與智慧座艙快速發展,讓車用電子正走向高度整合。多晶片模組(MCM)與系統級封裝(SiP)不再只是元件集合,而逐步演變為「小型系統」。在此趨勢下,車規可靠度標準也迎來關鍵升級。
不只探針卡接觸式測試,太赫茲量測開啟晶片檢測新途徑 |
| 作者 蘇 子芸|發布日期 2026 年 04 月 14 日 15:35 | 分類 半導體 , 封裝測試 |
根據 IEEE Spectrum 報導,阿德萊德大學 的研究團隊近期提出一項新型半導體量測技術,利用太赫茲(terahertz)電磁波,即可在不干擾晶片運作的情況下,觀測內部電晶體的活動。研究指出,該方法有望為既有晶片測試提供新的量測方向。 繼續閱讀..



