檢測 IC 半導體製程必不可少的精密儀器，材料分析技術一日千里 |
作者
TechNews|發布日期
2023 年 05 月 24 日 9:00 |
|
穿透式電子顯微鏡 （Transmission Electron Microscope, TEM）是觀察微小結構及原子排列的最常用分析方法。隨著 IC 半導體 (Semiconductor) 的發展，車用鋰 （Li）電池、量子電腦 (Quantum Computer)、第四代 III-V 族化合物半導體、二維材料如石墨烯 （Graphene） 等新材料的分析需求與日俱增，提高電子顯微鏡所具備的解析度也成為當務之急。
英特爾 Pat Gelsinger 下週訪台，與台積電討論先進製程訂單 |
|
作者
Atkinson|發布日期
2023 年 05 月 16 日 22:10 |
|
不健忘的讀者應該還記得，英特爾執行長 Pat Gelsinger 曾無預警現身 COMPUTEX Taipei 會場，引發騷動。本月底 COMPUTEX 即將登場，輝達執行長黃仁勳、Arm 執行長 Rene Haas、高通資深副總裁 Alex Katouzian 都將齊聚台北，發表專題演講並介紹新產品，Pat Gelsinger 卻選擇前一週低調訪台，無緣與其他科技界大咖碰頭，民眾也應該無緣目睹他首次上 COMPUTEX 舞台。
