日本經濟產業省宣布 7 月 23 日起將 23 種半導體製造設備列入出口管制措施，令中國半導體業者相當緊張。其實比起美荷夾殺，日本限制半導體設備出口，才是衝擊中國晶片業發展的關鍵，很可能重創低階晶片製造。 繼續閱讀..
Category Archives: 晶片
檢測 IC 半導體製程必不可少的精密儀器，材料分析技術一日千里 |
作者
TechNews|發布日期
2023 年 05 月 24 日 9:00 |
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穿透式電子顯微鏡 （Transmission Electron Microscope, TEM）是觀察微小結構及原子排列的最常用分析方法。隨著 IC 半導體 (Semiconductor) 的發展，車用鋰 （Li）電池、量子電腦 (Quantum Computer)、第四代 III-V 族化合物半導體、二維材料如石墨烯 （Graphene） 等新材料的分析需求與日俱增，提高電子顯微鏡所具備的解析度也成為當務之急。
日本 Rapidus 目標 2025 年 4 月試產 2 奈米晶片 |
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作者
MoneyDJ|發布日期
2023 年 05 月 23 日 11:35 |
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目標將次世代半導體（晶片）國產化、由日本官民合作設立的半導體研發/製造/銷售公司 Rapidus 公布最新的生產計畫，預計將在 2025 年 4 月試產 2 奈米晶片。 繼續閱讀..
