半導體先進封裝的異質整合發展,兩大半導體龍頭台積電與日月光均表示,延續摩爾定律,除了製程線寬微縮,先進封裝異質整合也是重要發展趨勢。台積電卓越科技院士暨研發副總余振華指出,台積電先進封裝異質整合面臨解決方案成本控制、精準製程控制兩大挑戰,盼與產業鏈共同努力。日月光集團研發中心副總經理洪志斌指出,異質整合多樣性可從晶圓端和封裝端發展,甚至結合熟知的系統解決方案技術,使半導體供應鏈有發揮空間。
Category Archives: 封裝測試
日月光投控受惠四大動能,法人估明年首季業績優於同期 |
作者 中央社|發布日期 2021 年 11 月 23 日 12:10 | 分類 封裝測試 , 財經 |
封測大廠日月光投控明年可續受惠 5G、人工智慧、物聯網、電動車等帶動需求強勁,外資法人預估明年第一季業績優於以往同期表現,封測產能吃緊,稼動率高檔,明年日月光投控產品定價看佳。 繼續閱讀..

拓墣觀點》FOPLP 封裝演進及趨勢發展 |
作者 拓墣產研|發布日期 2021 年 11 月 16 日 7:30 | 分類 封裝測試 , 會員專區 |
面對疫情衝擊全球各大產業,迫使部分廠房及航運出口陸續受到影響,且半導體製造及封測行業也難例外。以封測產業為例,受此波疫情影響,部分先進封裝如 BGA、Flip Chip 及 SiP 等皆需載板,相關設計大廠開始思考無載板封裝的可行性,此時可一次性大面積封裝 FOPLP 亦成為焦點。雖然 FOPLP 封裝可大幅降低製程成本,但面板翹曲、均勻性及良率等問題仍是挑戰,後續有待相關業者及設備商合力優化。 繼續閱讀..
Flip Chip QFN 晶片異常點如何找 |
作者 TechNews|發布日期 2021 年 11 月 02 日 10:00 | 分類 封裝測試 , 晶片 |
“FCQFN(Flip chip QFN)電源 IC 發生異常,該如何妥善運用失效分析工具,速找異常點?”